发明名称 天线远场参数校准装置及校准方法
摘要 本发明涉及天线远场参数校准装置及校准方法,校准装置包括接收机、计算机、微波暗室、接收天线、转台、发射天线、支架和信号发生器,其特征是所述接收天线、转台、发射天线、支架放置于微波暗室内,接收天线设置于转台上并置于暗室的空间纵向轴线上,发射天线设置于支架上并置于暗室空间纵向轴线上,接收机与计算机之间通过通讯连接,计算机的信号输出端分别与转台和信号发生器的信号输入端连接,信号发生器的信号输出端与发射天线的信号输入端连接,接收天线的信号输出端与接收机的信号输入端连接。采用本发明可实现天线电气性能参数的精确、快速、实时、高效测量。本发明适应面宽,可校准频率范围大,测量合成不确定度可达到0.21-0.49dB。<!--1-->
申请公布号 CN102818942B 申请公布日期 2014.08.20
申请号 CN201210303177.X 申请日期 2012.08.24
申请人 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 发明人 罗喜明;吴传昕;田春华;黄品芳;毛凡;李雷;杨小朋;胡小洲
分类号 G01R29/10(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R29/10(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 徐祥生
主权项 一种天线远场参数校准装置,包括接收机(1)、计算机(2)、微波暗室(3)、接收天线(4)、转台(5)、发射天线(6)、支架(7)和信号发生器(8),其特征在于:所述接收天线(4)、转台(5)、发射天线(6)、支架(7)放置于微波暗室(3)内,接收天线(4)设置于转台(5)上并置于暗室的空间纵向轴线上,发射天线(6)设置于支架(7)上并置于暗室空间纵向轴线上,微波暗室(3)为长方体,微波暗室(3)内六面均铺设吸波材料,微波暗室(3)的轴向尺寸符合收、发天线远场距离要求,微波暗室(3)的横截面尺寸符合天线口径大小要求,微波暗室(3)设置有屏蔽层,微波暗室(3)内的静区高度大于待测天线的垂直口径,微波暗室(3)内的静区深度与宽度相当,微波暗室(3)内的静区宽度大于待测天线水平口径,微波暗室(3)内的静区反射电平≤‑30dB,所述接收机(1)与计算机(2)之间通过通讯连接,所述计算机(2)的信号输出端分别与转台(5)和信号发生器(8)的信号输入端连接,所述信号发生器(8)的信号输出端与发射天线(6)的信号输入端连接,所述接收天线(4)的信号输出端与接收机(1)的信号输入端连接。
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