发明名称 | 一种X射线曝光自动检测的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种X射线曝光自动检测的方法,含如下步骤:1)采集部分像素的读数;2)通过实时比较所述部分像素的读数的平均值与无X射线曝光条件下的数值,得差值;3)设阈值;4)比较所述差值和阈值;5)若判断发生曝光,则进行再一次图像数据的读取;图像抓取完成后,重新开始步骤1);若判断未发生曝光,重新开始步骤1)以循环进行工作。本发明不依赖X射线传感器或可见光传感器来实现曝光同步,节省了成本。可免去通常X射线曝光之前需要的准备信号或同步信号,使X射线曝光过程及对曝光的处理更加简单易用。可以增加曝光自动检测的准确性、可靠性等,增强了检测的及时性,能够得到质量较好的图像。 | ||
申请公布号 | CN103994823A | 申请公布日期 | 2014.08.20 |
申请号 | CN201410115690.5 | 申请日期 | 2014.03.26 |
申请人 | 上海品臻影像科技有限公司 | 发明人 | 何祥瑞 |
分类号 | G01J1/10(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/10(2006.01)I |
代理机构 | 上海京沪专利代理事务所(普通合伙) 31235 | 代理人 | 周晓玲 |
主权项 | 一种X射线曝光自动检测的方法,其特征在于包含如下步骤:1)在X射线影像探测器的像素阵上采集部分像素的读数;2)通过实时比较所述部分像素的读数的平均值与无X射线曝光条件下的数值,得到它们两者的差值;3)设阈值;所述阈值为判定有X射线的最小值;4)比较所述差值和阈值;差值大于阈值,则发生曝光;差值小于阈值,则不发生;5)若判断发生曝光,则进行再一次图像数据的读取;待再一次图像抓取完成后,则重新开始从步骤1)的部分像素读数采集;若判断未发生曝光,重新开始从步骤1)的部分像素读数采集,以此循环进行工作。 | ||
地址 | 200331 上海市普陀区绥德路2弄13号5楼 |