电容测试方法及系统

摘要

本发明公开了一种电容测试方法及系统，该方法包括以下步骤：激励电流值I恒定的直流电流通过RC并联电路；在j个时刻t_n分别采集RC并联电路的暂态电压值u_cn，n＝1，2，...，j，j＞1；以及使用I、u_cn、t_n和RC并联电路中的稳态电压值u₀计算得到RC并联电路中的电容C。本发明提高了电容测试的精确性、可靠性和一致性。

主权项

一种电容测试方法，其特征在于包括以下步骤：激励电流值I恒定的直流电流通过RC并联电路；在j个时刻t_n分别采集所述RC并联电路的暂态电压值u_cn，n=1，2，…，j，j〉1；以及使用I、u_cn、t_n和所述RC并联电路的稳态电压值u₀计算得到所述RC并联电路中的电容C；其中，采用下式计算所述电容C：$C=-\frac{I\times \underset{n=1}{\overset{j}{\Sigma }}{(t_n-\frac{1}{j}\underset{n=1}{\overset{j}{\Sigma }}{t}_n)}^2}{u_0\times \underset{n=1}{\overset{j}{\Sigma }}\left\{(t_n-\frac{1}{j}\underset{n=1}{\overset{j}{\Sigma }}{t}_n)\right[u_n-\frac{1}{j}\underset{n=1}{\overset{j}{\Sigma }}\ln (1-\frac{u_{\mathrm{cn}}}{u_0})\left]\right\}},$其中，j〉2，$u_n=\ln (1-\frac{u_{\mathrm{cn}}}{u_0});$或$C=\frac{2}{j(j-1)}\underset{p=1}{\overset{j}{\Sigma }}\underset{q=p+1}{\overset{j}{\Sigma }}\frac{I(t_q-t_p)}{u_0(\ln (1-\frac{u_{\mathrm{cp}}}{u_0})-\ln (1-\frac{u_{\mathrm{cq}}}{u_0}))}$其中，t_p和t_q是从t_n中任意选择的两个时刻，p不等于q，j大于2；或$C=\frac{I(t_2-t_1)}{u_0(\ln (1-\frac{u_{c1}}{u_0})-\ln (1-\frac{u_{c2}}{u_0}))}$其中，u_c1和u_c2分别为在时刻t₁和t₂采集所述RC并联电路的所述暂态电压值。