发明名称 一种用于CCD调制传递函数测试的设备及其测试方法
摘要 一种用于CCD调制传递函数测试的设备及其测试方法涉及CCD成像质量检测领域,该设备包括卤素灯光源室、单色仪、积分球装置、分划板部、大数值孔径显微物镜装置、CCD三维调整架和待测CCD。本发明利用单色仪与积分球输出均匀的单色光,并经过大数值孔径显微物镜成像,将特定空间频率的分划板成像到CCD成像电子学系统的光敏面上,根据图像采集得到的黑白条纹的数码值进而计算出CCD调制传递函数。本发明使用白光及各谱段单色光对CCD调制传递函数进行评价,能够对不同景物通过CCD后的成像质量进行全面分析评价;利用步进电机对分划板及CCD进行多维调节,减轻了CCD调制传递函数测试的工作量;结构紧凑,操作方便简单。
申请公布号 CN102735429B 申请公布日期 2014.08.20
申请号 CN201210194672.1 申请日期 2012.06.13
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 孙景旭;任建伟;万志;刘则洵;李葆勇;李宪圣;李豫东
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 田春梅
主权项 一种用于CCD调制传递函数测试的设备,包括卤素灯光源室(1)、单色仪(2)、积分球装置(3)、分划板部(4)、大数值孔径显微物镜装置(5)、CCD三维调整架(6)和待测CCD(7);其特征在于,卤素灯光源室(1)通过过渡板用螺钉与单色仪(2)连接,单色仪(2)通过过渡筒与积分球装置(3)连接;分划板部(4)安放在积分球装置(3)的后面,且分划板部(4)中的分划板(4‑2)的中心正对积分球装置(3)中积分球(3‑2)的球心;大数值孔径显微物镜装置(5)中的大数值孔径显微物镜(5‑3)安放在距离分划板(4‑2)50mm处,且分划板(4‑2)的中心在大数值孔径显微物镜(5‑3)的光轴上;通过调整CCD三维调整架(6)使得待测CCD(7)的光敏面位于大数值孔径显微物镜(5‑3)的焦点位置。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号