发明名称 |
一种制作VDMOS的方法 |
摘要 |
本发明实施例提供了一种制作VDMOS的方法,包括提供一N型衬底,在衬底的第一表面上形成N型外延层;在N型外延层上生长场氧,形成场氧化层;在场氧化层上刻蚀出有源区,注入N型离子并驱入;在场氧化层上刻蚀出至少一个环区,在每个环区注入P型离子;在有源区和环区上生长栅氧,形成栅氧化层;在N型外延层的上表面的下方形成阈值注入层;在栅氧化层上沉积多晶硅,形成多晶硅层,作为VDMOS的栅极;在有源区且在多晶硅层的两侧注入P型离子并驱入;在驱入P型离子的区域上形成VDMOS的源极;对衬底的第二表面进行减薄,并在减薄后的第二表面上生长金属层,形成VDMOS的漏极。使用前述方法可以随时调节电压,使用起来较为方便。 |
申请公布号 |
CN103996622A |
申请公布日期 |
2014.08.20 |
申请号 |
CN201310056245.1 |
申请日期 |
2013.02.20 |
申请人 |
北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
发明人 |
闻正锋;赵文魁 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种制作垂直双扩散金属‑氧化物半导体场效应晶体管VDMOS的方法,其特征在于,包括:提供一N型衬底,在所述衬底的第一表面上形成N型外延层;在所述N型外延层上生长场氧,形成场氧化层;在所述场氧化层上刻蚀出有源区,并在所述有源区注入N型离子并驱入;在所述场氧化层上刻蚀出至少一个环区,并在每个环区注入P型离子;分别在所述有源区和所述环区上生长栅氧,形成栅氧化层;在所述N型外延层的上表面的下方形成阈值注入层;在所述栅氧化层上沉积多晶硅,形成多晶硅层,将其作为VDMOS的栅极;在所述有源区且在所述多晶硅层的两侧注入P型离子并驱入;在驱入P型离子的区域上形成VDMOS的源极;对所述衬底的第二表面进行减薄,并在减薄后的第二表面上生长金属层,形成VDMOS的漏极。 |
地址 |
100871 北京市海淀区成府路298号方正大厦9层 |