发明名称 一种制作VDMOS的方法
摘要 本发明实施例提供了一种制作VDMOS的方法,包括提供一N型衬底,在衬底的第一表面上形成N型外延层;在N型外延层上生长场氧,形成场氧化层;在场氧化层上刻蚀出有源区,注入N型离子并驱入;在场氧化层上刻蚀出至少一个环区,在每个环区注入P型离子;在有源区和环区上生长栅氧,形成栅氧化层;在N型外延层的上表面的下方形成阈值注入层;在栅氧化层上沉积多晶硅,形成多晶硅层,作为VDMOS的栅极;在有源区且在多晶硅层的两侧注入P型离子并驱入;在驱入P型离子的区域上形成VDMOS的源极;对衬底的第二表面进行减薄,并在减薄后的第二表面上生长金属层,形成VDMOS的漏极。使用前述方法可以随时调节电压,使用起来较为方便。
申请公布号 CN103996622A 申请公布日期 2014.08.20
申请号 CN201310056245.1 申请日期 2013.02.20
申请人 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 发明人 闻正锋;赵文魁
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种制作垂直双扩散金属‑氧化物半导体场效应晶体管VDMOS的方法,其特征在于,包括:提供一N型衬底,在所述衬底的第一表面上形成N型外延层;在所述N型外延层上生长场氧,形成场氧化层;在所述场氧化层上刻蚀出有源区,并在所述有源区注入N型离子并驱入;在所述场氧化层上刻蚀出至少一个环区,并在每个环区注入P型离子;分别在所述有源区和所述环区上生长栅氧,形成栅氧化层;在所述N型外延层的上表面的下方形成阈值注入层;在所述栅氧化层上沉积多晶硅,形成多晶硅层,将其作为VDMOS的栅极;在所述有源区且在所述多晶硅层的两侧注入P型离子并驱入;在驱入P型离子的区域上形成VDMOS的源极;对所述衬底的第二表面进行减薄,并在减薄后的第二表面上生长金属层,形成VDMOS的漏极。
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