半导体积体电路;SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

摘要

本发明的课题是自雷射攻击保护LSI所保持的机密资讯，雷射攻击是以藉由使误动作产生于LSI来取得或篡改机密资讯为目的。无论藉由雷射攻击所发生之复数位元的记忆元件的错误的位元数为何位元，皆可检测出雷射攻击。其解决手段是以含在逻辑电路的复数位元的记忆元件作为对象，具备攻击检测电路。攻击检测电路是具备：错误判定电路，其系可利用码理论等的逻辑运算来检测出；及光照射检测电路，其系具有光检测元件，配置光检测元件，使光照射检测电路能够检测出超过错误判定电路的检测界限之位元数的错误。藉由错误判定电路之错误检测及光照射检测电路之光照射的检测来互补地检测出来自外部的故障利用攻击。