发明名称 |
张应变锗MSM光电探测器及其制作方法 |
摘要 |
本发明提供一种张应变锗光电探测器及其制作方法,该方法至少包括以下步骤:S1:提供一衬底并在其上依次形成牺牲层及锗层;S2:在所述锗层上形成一金属层,所述金属层对所述锗层提供应力;S3:将所述金属层图形化,形成一对金属主基座及一对金属次基座;S4:将所述锗层图形化以在所述金属主基座及金属次基座下分别形成锗主基座及锗次基座,并在每一对锗次基座之间形成至少一条锗桥线;S5:腐蚀掉所述锗桥线下方及所述锗次基座下方的牺牲层,以使所述锗桥线及所述锗次基座悬空,该悬空的锗次基座在所述金属层的应力作用下卷曲使所述锗桥线拉伸,得到张应变锗MSM光电探测器。本发明可提高MSM光电探测器的光电探测性能。 |
申请公布号 |
CN103985788A |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201410217764.6 |
申请日期 |
2014.05.21 |
申请人 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
狄增峰;母志强;郭庆磊;叶林;陈达;张苗;王曦 |
分类号 |
H01L31/18(2006.01)I;H01L31/08(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/0216(2014.01)I |
主分类号 |
H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种张应变锗MSM光电探测器的制作方法,其特征在于,至少包括以下步骤:S1:提供一衬底,在所述衬底上依次形成一牺牲层及一锗层;S2:在所述锗层上形成一金属层,所述金属层对所述锗层提供应力;S3:将所述金属层图形化,形成一对金属主基座及与该一对金属主基座相连的至少一对金属次基座;S4:将所述锗层图形化以在所述金属主基座及金属次基座下分别形成锗主基座及锗次基座,并在每一对锗次基座之间形成至少一条锗桥线;S5:腐蚀掉所述锗桥线下方及所述锗次基座下方的牺牲层,以使所述锗桥线及所述锗次基座悬空,该悬空的锗次基座在所述金属层的应力作用下卷曲使所述锗桥线拉伸,得到张应变锗MSM光电探测器。 |
地址 |
200050 上海市长宁区长宁路865号 |