发明名称 GaAs/AlGaAs半导体异质结结构栅极电控量子点的制备方法及其测量方法
摘要 本发明公开了一种GaAs/AlGaAs半导体异质结结构栅极电控量子点的制备方法,所述方法包括以下步骤:a.基片生长步骤;b.基片预处理步骤;c.量子点的制备步骤;和d.量子点样品的分块封装步骤。
申请公布号 CN103985655A 申请公布日期 2014.08.13
申请号 CN201410229185.3 申请日期 2014.05.27
申请人 中国科学技术大学 发明人 尤杰;郭国平;李海欧;曹刚;肖明;郭光灿
分类号 H01L21/66(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 贺卫国
主权项 一种GaAs/AlGaAs半导体异质结结构栅极电控量子点的制备方法,所述方法包括以下步骤:a.基片生长步骤,其中依次生长GaAs衬底(101)、AlGaAs缓冲层(102)、AlGaAs掺杂层(103)、AlGaAs隔离层(104)和表面的GaAs盖帽层(105),从而形成稳定的二维电子气结构(106);b.基片预处理步骤,其中将基片清洗干净;c.量子点的制备步骤,其中通过刻蚀制成二维电子导通平台(100)结构,得到所述二维电子气结构(106)中的二维电子气区域;再通过进行光学曝光、镀膜和金属剥离,制备欧姆接触电极(200)和位于表面的金属栅极(300);最后通过进行电子束曝光、镀膜和金属剥离,得到量子点区域的金属小电极(400),形成中间的量子点(QD)区域(500)和量子点接触(QPC)通道(600),所述金属小电极(400)与金属栅极(300)的尖端相连;d.量子点样品的分块封装步骤,其中将制备完成的量子点样品基片进行封装。
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号