发明名称 |
晶圆背面清洗装置 |
摘要 |
本实用新型揭示了一种晶圆背面清洗装置,包括清洗结构,用于对晶圆的背面进行清洗,吹扫结构,所述吹扫结构与清洗结构相对设置,且位于所述清洗结构的正上方,以在清洗时对所述晶圆边缘提供高压气体进行保护。所述吹扫结构在晶圆清洗时提供高压气体,从而能够抵御清洗液侵蚀到晶圆上表面,能够提高产品的质量,减少甚至避免缺陷的产生,提高了良率。 |
申请公布号 |
CN203774251U |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201420103444.3 |
申请日期 |
2014.03.07 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
郝静安;舒强;邢滨 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种晶圆背面清洗装置,包括清洗结构,用于对晶圆的背面进行清洗,其特征在于,还包括:吹扫结构,所述吹扫结构与清洗结构相对设置,且位于所述清洗结构的正上方,以在清洗时对所述晶圆边缘提供高压气体进行保护。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号 |