发明名称 |
非制冷长波红外探测器用吸收层结构 |
摘要 |
本专利公开了一种非制冷长波红外探测器用吸收层结构,该吸收层位于探测器的热敏感薄膜上,自上而下依次由第一介质层、第二金属层、第三绝缘层组成。其特征在于:第一介质层是导热性好、抗腐蚀性强的氮化硅薄膜,作为减反层和器件保护层,膜厚为1000nm–1200nm;第二金属层是膜厚为8nm–12nm的镍铬合金层,作为红外波段的吸收层;第三绝缘层是膜厚为50nm–100nm的二氧化硅薄膜,作为热敏感薄膜与金属层之间的绝缘层。该吸收层制备工艺简单,易与现有的微电子工艺兼容,适用于单元、线列及面阵红外探测器。本专利所提供的红外吸收层具有附着牢固、抗腐蚀性强、重复性好、比热容低、传热性能优异、在8–14微米红外波段具有85%以上吸收率的优点。 |
申请公布号 |
CN203772418U |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201420028407.0 |
申请日期 |
2014.01.17 |
申请人 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
发明人 |
欧阳程;黄志明;周炜;吴敬;高艳卿;龙芳;褚君浩 |
分类号 |
G01J5/02(2006.01)I;G01J5/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
郭英 |
主权项 |
一种非制冷长波红外探测器用吸收层结构,它由氮化硅薄膜(1)、镍铬合金层(2)和二氧化硅薄膜(3)组成,其特征在于:所述的吸收层结构按辐射的入射顺序依次为氮化硅薄膜(1)、镍铬合金层(2)和二氧化硅薄膜(3);其中:所述氮化硅薄膜(1)的膜厚为1000nm–1200nm;所述镍铬合金层(2)的膜厚为8nm–12nm,其方块电阻为9.0Ω/□–10.0Ω/□;所述二氧化硅薄膜(3)的膜厚为50nm–100nm。 |
地址 |
200083 上海市虹口区玉田路500号 |