发明名称 |
一种集成反并联二极管的IGBT结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供了一种集成反并联二极管的IGBT结构及其制造方法,属于半导体功率器件领域,该集成反并联二极管的IGBT在现有集成反并联二极管的IGBT的P型集电区和N型集电区之间加入使P型集电区和N-型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态的半导体区,维持N型集电区及其上方N-漂移区的高阻特性,在给集电极由小到大渐变施加电压时,使P型集电区和N-型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态,不影响IGBT的通态压降,达到了减弱集成反并联二极管IGBT突然跳回现象的目的。 |
申请公布号 |
CN102446966B |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201010506011.9 |
申请日期 |
2010.09.30 |
申请人 |
比亚迪股份有限公司 |
发明人 |
温世达;肖秀光 |
分类号 |
H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/739(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种集成反并联二极管的IGBT结构,包括:集电极、P型集电区、N型集电区、N‑型漂移区、第一P型阱区、第二P型阱区、第一N型有源区、第二N型有源区、第一绝缘层、门极、第二绝缘层、发射极;所述P型集电区和N型集电区位于所述集电极上部的同一层;所述N‑型漂移区位于P型集电区和N型集电区的上部;所述第一P型阱区和第二P型阱区自N‑漂移区表面两侧向下延伸,被N‑漂移区表面中间部分隔离开;所述第一N型有源区位于第一P型阱区内,所述第二N型有源区位于第二P型阱区内;所述第一绝缘层与N‑型漂移区表面部分、第一P型阱区部分、第一N型有源区部分、第二P型阱区部分、第二N型有源区部分相连;所述门极与第一绝缘层相连;所述第二绝缘层位于所述门极与发射极之间;所述发射极分别与第一P型阱区部分、第一N型有源区部分、第二绝缘层、第二P型阱区部分、第二N型有源区部分相连;其特征在于,所述集成反并联二极管的IGBT结构还包括:在给集电极由小到大渐变施加电压时,使P型集电区和N‑型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态的半导体区,所述半导体区位于P型集电区和N型集电区之间的同一层;所述半导体区为P‑型半导体区和N+型半导体区共同构成;所述P型集电区、N型集电区、P‑型半导体区和N+型半导体区所在层的排列顺序为P型集电区、P‑型半导体区、N+型半导体区、N型集电区;所述P‑型半导体区的离子注入浓度低于所述P型集电区的离子注入浓度,所述N+型半导体区的离子注入浓度高于N型集电区的离子注入浓度。 |
地址 |
518118 广东省深圳市坪山新区比亚迪路3009号 |