发明名称 |
一种通用的机械定时器的测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种通用的机械定时器的测试方法,包括以下步骤:1)在被测机械定时器的摆轮的一端使用光纤发生器照射,在其另一端通过光纤传感器采集,得到光束穿过摆轮的后转换成的脉冲信号;2)将采集到的脉冲信号传输给MCU,其中,MCU为微控制单元或者单片机;3)MCU对脉冲信号进行计数处理,得到摆轮的摆动角度和对应的测量时间,通过显示器显示并存入MCU的存储器。本发明基于长时间对机械定时器的结构的研究和反复的测试,提出了一种通用的机械定时器的测试方法,其用于测试各类机械定时器的性能指标。本发明不仅为各种类型机械定时器的性能测试提供了一个有效的方法,而且可以准确的测量机械定时器的定时时间,并将定时时间显示出来。 |
申请公布号 |
CN103984269A |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201410235063.5 |
申请日期 |
2014.05.29 |
申请人 |
西安交通大学 |
发明人 |
王勇;谢逢洁;葛思擘;邹建华;谷肖飞;方昌健 |
分类号 |
G05B19/042(2006.01)I;G04D7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/042(2006.01)I |
代理机构 |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人 |
陆万寿 |
主权项 |
一种通用的机械定时器的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在被测机械定时器的摆轮(1)的一端使用光纤发生器(2)照射,在其另一端通过光纤传感器(3)采集,得到光束穿过摆轮(1)的后转换成的脉冲信号;2)将采集到的脉冲信号传输给MCU,其中,MCU为微控制单元或者单片机;3)MCU对脉冲信号进行计数处理,得到摆轮(1)的摆动角度和对应的测量时间,通过显示器显示并存入MCU的存储器。 |
地址 |
710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |