一种通用光耦芯片测试装置

摘要

本实用新型涉及一种通用光耦芯片测试装置，包括测试电路板（4）、带触摸屏的LCD显示屏（1）、按键（8）、PC机（9）；其特征在于在测试电路板（4）中设置有主控CPU（14）、数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）、可替换封装的测试座（17）、A/D转换（20）等；主控CPU（14）是整个测试装置的处理单元，所有控制信号、显示和数据采集分析处理都是由其完成的，在带触摸屏的LCD显示屏（1）上显示结果的同时也可以通过RS232连接器（12）将测试结果数据送至PC机（9）上；本实用新型能对各种光耦的性能进行全面的测试，能扩展测试芯片的型号，能进行故障自诊断和误差自校正，具有测试方法简单、自动化程度高的特点。

主权项

一种通用光耦芯片测试装置，包括测试电路板（4）、带触摸屏的LCD显示屏（1）、按键（8）、PC机（9）；其特征在于在测试电路板（4）中设置有电源单元（13）、主控CPU（14）、数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）、可替换封装的测试座（17）、通信接口（18）、自诊断单元（19）、A/D转换（20）、电源连接器（3）、LCD屏连接器（5）、按键连接器（6）、RS232连接器（12）；测试电路板（4）上的LCD屏连接器（5）通过LCD屏连接电缆（2）与带触摸屏的LCD显示屏（1）相连接；测试电路板（4）上的按键连接器（6）通过按键连接电缆（7）与按键（8）相连接；测试电路板（4）上的RS232连接器（12）通过串口通信电缆（11）与PC机串口（10）相连接；测试电路板（4）上的电源连接器（3）与外接电源相连接；所述的电源单元（13）给带触摸屏的LCD显示屏（1）、主控CPU（14）、A/D转换（20）、数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）提供电源；所述的主控CPU（14）接收带触摸屏的LCD显示屏（1）、按键（8）或PC机（9）发过来的命令，经过处理后再向数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）、A/D转换（20）和自诊断单元（19）发出控制执行指令；所述的数控电流源（15）接收主控CPU（14）的控制指令，产生输出测试电流经过模拟开关矩阵（16）切换适配光耦引脚后，提供光耦输入端的测试信号；所述的模拟开关矩阵（16）接收主控CPU（14）的控制指令，将光耦的各引脚对应连接到电源、数控电流源（15）和A/D转换（20）上；所述的A/D转换（20）接收主控CPU（14）的控制指令，对光耦输入和输出的电流、电压进行采样，还对测试误差进行采样；所述的自诊断单元（19）接收主控CPU（14）的控制指令，对数控电流源（15）和A/D转换（20）、模拟开关矩阵（16）的工作状态进行采样；所述的通信接口（18）完成RS232串口电平转换，提供PC机发送命令和接收测试数据的通道。