| 发明名称 | 测量颗粒粒径分布的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种测量颗粒粒径分布的方法及装置，其中，测量颗粒粒径分布的方法包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。本发明能够对低信噪比测量数据实现准确的粒径分布反演计算。 | ||
| 申请公布号 | CN103983546A | 申请公布日期 | 2014.08.13 |
| 申请号 | CN201410126595.5 | 申请日期 | 2014.03.31 |
| 申请人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明人 | 杨福桂;王秋实;李明;盛伟繁 |
| 分类号 | G01N15/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人 | 孟阿妮 |
| 主权项 | 一种测量颗粒粒径分布的方法，其特征在于，包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。 | ||
| 地址 | 100049 北京市石景山区玉泉路19号（乙院） | ||