发明名称 用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置
摘要 本实用新型公开了一种用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置,包括:N型同轴接口;外导体,包括N型同轴接口的外导体部分、过渡段外导体部分、和带法兰盘的测试夹具外导体部分,且过渡段外导体部分连接在N型同轴接口的外导体部分和带法兰盘的测试夹具外导体部分之间;内导体,包括N型同轴接口的内导体部分、过渡段内导体部分、和带法兰盘的测试夹具内导体部分,且过渡段内导体部分连接在该N型同轴接口的内导体部分和带法兰盘的测试夹具内导体部分之间,其中过渡段外导体部分的内表面和过渡段内导体部分具有二次曲线型轮廓。本实用新型采用电容补偿方法,保证了装置匹配性,改善了驻波比,提高了测试精度。
申请公布号 CN203772976U 申请公布日期 2014.08.13
申请号 CN201320860570.9 申请日期 2013.12.24
申请人 上海市计量测试技术研究院 发明人 陈超婵;蔡青;缪轶;朱建刚;左建生
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张欣
主权项 一种用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置,包括:N型同轴接口(1);外导体(3,5,7),所述外导体包括N型同轴接口的外导体部分(3)、过渡段外导体部分(5)、和带法兰盘的测试夹具外导体部分(7),且所述过渡段外导体部分(5)连接在所述N型同轴接口的外导体部分(3)和所述带法兰盘的测试夹具外导体部分(7)之间;内导体(2,4,6),所述内导体包括N型同轴接口的内导体部分(2)、过渡段内导体部分(4)、和带法兰盘的测试夹具内导体部分(6),且所述过渡段内导体部分(4)连接在所述N型同轴接口的内导体部分(2)和所述带法兰盘的测试夹具内导体部分(6)之间;其特征在于,所述过渡段外导体部分(5)的内表面和所述过渡段内导体部分(4)具有二次曲线型轮廓。
地址 201203 上海市浦东新区张衡路1500号