发明名称 |
一种快速恢复二极管 |
摘要 |
本实用新型涉及一种半导体功率器件,具体涉及一种快速恢复二极管。快速恢复二极管包括衬底和P区,所述P区在衬底上形成,衬底为非均匀掺杂的N型硅衬底,N型硅衬底包括从下到上依次分布的衬底N-层以及衬底N+层;所述P区包括从上到下依次排布的被腐蚀的P+区和P+区,所述P+区和衬底N-层形成P+N-结。本实用新型在保证P+N-结两侧浓度的情况下,通过对P+区硅进行腐蚀的方法来降低P+区的杂质总量,从而降低P+区注入到N-区的空穴数量,这样就可以通过较少的复合中心达到足够的反向恢复速度;同时,参与电导调制空穴数量的减少,使压降的温度系数接近于零,更易于并联。 |
申请公布号 |
CN203774338U |
申请公布日期 |
2014.08.13 |
申请号 |
CN201420137215.3 |
申请日期 |
2014.03.25 |
申请人 |
国家电网公司;国网上海市电力公司;国网智能电网研究院 |
发明人 |
何延强;吴迪;刘钺杨 |
分类号 |
H01L29/861(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/861(2006.01)I |
代理机构 |
北京安博达知识产权代理有限公司 11271 |
代理人 |
徐国文 |
主权项 |
一种快速恢复二极管,所述快速恢复二极管包括衬底和P区,所述P区在衬底上形成,其特征在于,所述衬底为非均匀掺杂的N型硅衬底,所述N型硅衬底包括从下到上依次分布的衬底N‑层以及衬底N+层;所述P区包括从上到下依次排布的被腐蚀的P+区和P+区,所述P+区和衬底N‑层形成P+N‑结。 |
地址 |
100031 北京市西城区西长安街86号 |