发明名称 |
触碰点的判断方法 |
摘要 |
一种触碰点的判断方法,包括步骤:执行第一操作以判断第一触碰侦测点的侦测结果是否超过第一临界值;执行第二操作以判断多个第二触碰侦测点的侦测结果是否皆不大于第一触碰侦测点的侦测结果,其中这些第二触碰侦测点邻近于第一触碰侦测点;执行第三操作以判断多个第三触碰侦测点的侦测结果的和是否超过第二临界值,其中这些第三触碰侦测点邻近于第一触碰侦测点;以及当第一操作、第二操作与第三操作的结果皆为是的时候,设定第一触碰侦测点为被物体触碰的触碰点。 |
申请公布号 |
TWI448934 |
申请公布日期 |
2014.08.11 |
申请号 |
TW100109606 |
申请日期 |
2011.03.21 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |
发明人 |
杨竣崴;洪春龙;黄敬智;许育民 |
分类号 |
G06F3/041 |
主分类号 |
G06F3/041 |
代理机构 |
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代理人 |
郭晓文 台北市文山区罗斯福路6段407号4楼 |
主权项 |
一种触碰点的判断方法,包括:执行一第一操作以判断一第一触碰侦测点的侦测结果是否超过一第一临界值;执行一第二操作以判断多个第二触碰侦测点的侦测结果是否皆不大于第一触碰侦测点的侦测结果,其中该些第二触碰侦测点邻近于第一触碰侦测点;执行一第三操作以判断多个第三触碰侦测点的侦测结果的和是否超过一第二临界值,其中该些第三触碰侦测点邻近于第一触碰侦测点,且该些第三触碰侦测点的侦测结果超过零;以及当该第一操作、该第二操作与该第三操作的结果皆为是的时候,设定该第一触碰侦测点为被物体触碰的触碰点。 |
地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |