发明名称 利用补偿掺杂之半导体装置杂讯降低
摘要 一或多个实施例叙述一种制造以矽为基础之金属氧化物半导体装置的方法,包括:将一第一掺杂剂植入该装置的一第一部份完成体中,且该第一掺杂剂包括一第一杂讯降低种类,以及将一第二掺杂剂植入该装置的一第二部分完成体中,且该第二掺杂剂以及该第一掺杂剂为具有相反的导电型态。
申请公布号 TWI449111 申请公布日期 2014.08.11
申请号 TW097123616 申请日期 2008.06.24
申请人 英飞凌科技股份有限公司 德国 发明人 杜玛格欧 席拉克
分类号 H01L21/336;H01L21/265 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 蔡清福 台北市中山区中山北路3段27号13楼
主权项 一种制造一以矽为基底之金属氧化物半导体装置的方法,包括:将一第一掺杂剂植入该装置的一第一部份完成体中,该第一掺杂剂包括一第一杂讯降低种类,该第一掺杂剂缺乏BF2+;以及将一第二掺杂剂植入该装置的一第二部分完成体中,该第二掺杂剂以及该第一掺杂剂具有相反的导电型态,且该第二掺杂剂缺乏BF2+。
地址 德国