发明名称 测试装置、测试方法以及装置介面
摘要 本案对测试装置与具有光学介面的被测试装置的光输入输出进行简易地调整。本案提供一种测试装置及测试方法,该测试装置用于对包括在与装置面垂直的方向上传输光信号的光耦合器的被测试装置进行测试,且包括基板、光传输路径以及透镜部。基板,搭载着被测试装置。光传输路径,传输光信号。以及透镜部,于基板上与光耦合器相对向而设置,且使来自光耦合器与光传输路径的端部的一方向的光信号向另一方向聚光。
申请公布号 TWI448704 申请公布日期 2014.08.11
申请号 TW100137006 申请日期 2011.10.12
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 增田伸
分类号 G01R31/26;G01M11/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种测试装置,用于对包括光耦合器的被测试装置进行测试,上述光耦合器在与装置面垂直的方向上传输光信号,上述测试装置包括:基板,搭载上述被测试装置;光传输路径,传输上述光信号;透镜部,于上述基板上与上述光耦合器相对向而设置,使来自上述光耦合器的光信号聚光;以及光通信部,该光通信部经由上述光传输路径而与上述被测试装置的上述光耦合器连接,并且传输基于上述被测试装置的测试图案的测试光信号到上述被测试装置。
地址 日本