发明名称 Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements mit einer vertikalen Dielektrikumsschicht
摘要 <p>Ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements wird beschrieben. Das Verfahren umfasst das Bereitstellen eines Halbleiterkörpers mit einer ersten Oberfläche und einer zweiten Oberfläche gegenüber der ersten Oberfläche, das Herstellen eines ersten Grabens, der einen Boden und Seitenwände aufweist und der sich von der ersten Oberfläche in den Halbleiterkörper erstreckt, das Herstellen einer Dielektrikumsschicht entlang wenigstens einer Seitenwand des Grabens und das Füllen des Grabens mit einem Füllmaterial. Das Herstellen der Dielektrikumsschicht umfasst das Herstellen einer Schutzschicht an der wenigstens einen Seitenwand derart, dass die Schutzschicht einen Abschnitt der wenigstens einen Seitenwand unbedeckt lässt, Oxidieren des Halbleiterkörpers im Bereich des unbedeckten Seitenwandabschnitts, um einen ersten Abschnitt der Dielektrikumsschicht herzustellen, das Entfernen der Schutzschicht und das Herstellen eines zweiten Abschnitts der Dielektrikumsschicht an der wenigstens einen Seitenwand.</p>
申请公布号 DE102014101430(A1) 申请公布日期 2014.08.07
申请号 DE201410101430 申请日期 2014.02.05
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 HIRLER, FRANZ;MAUDER, ANTON;MEISER, ANDREAS
分类号 H01L21/336;H01L21/762;H01L21/8234;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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