发明名称 |
具有SiGe沟道的MOSFET及其形成方法 |
摘要 |
本发明提出一种具有SiGe沟道的MOSFET及其形成方法。其中形成方法包括以下步骤:提供顶部具有Si层的衬底;向Si层表层注入含有Ge元素的原子、分子、离子或等离子体,以形成SiGe层;在SiGe层之上形成栅堆叠结构,并在栅堆叠结构两侧形成源和漏。本发明的MOSFET的形成方法能够形成具有SiGe沟道的场效应晶体管,其中SiGe沟道的厚度较薄、晶体质量较好,因此晶体管具有良好的电学性能,且本方法具有简单易行、成本低的优点。 |
申请公布号 |
CN103972105A |
申请公布日期 |
2014.08.06 |
申请号 |
CN201410186686.8 |
申请日期 |
2014.05.05 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
王敬;肖磊;梁仁荣;许军 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种具有SiGe沟道的MOSFET的形成方法,其特征在于,包括以下步骤:提供顶部具有Si层的衬底;向所述Si层表层注入含有Ge元素的原子、分子、离子或等离子体,以形成SiGe层;在所述SiGe层之上形成栅堆叠结构,并在所述栅堆叠结构两侧形成源和漏。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084-82信箱 |