发明名称 一种温度设备低温试验操作装置
摘要 本发明涉及一种温度设备低温试验操作装置,该装置装在温度设备的开门内侧,所述的操作装置包括操作面板,该操作面板上设有操作孔;所述的操作面板为防爆玻璃制成的面板。与现有技术相比,本发明具有操作方便、安全性高等优点。
申请公布号 CN103968866A 申请公布日期 2014.08.06
申请号 CN201310041531.0 申请日期 2013.02.01
申请人 电计科技研发(上海)有限公司 发明人 施颖君
分类号 G01D11/00(2006.01)I 主分类号 G01D11/00(2006.01)I
代理机构 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人 赵志远
主权项 一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,该装置装在温度设备的开门内侧,所述的操作装置包括操作面板,该操作面板上设有操作孔。
地址 200241 上海市闵行区紫竹科学园区紫日路609号