| 发明名称 | 用于借助递推分析求得对版偏差的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于在使用计算机(4)的情况下在多色印刷机(7)中加工时求得承印物(3)上的对版和/套准偏差的方法和装置，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时通过所述计算机(4)考虑叠印效应的影响。本发明特点在于，当在所述承印物(3)上测量时在所述计算机(4)中递推地至少考虑一个在前的和/或一个随后的印刷图像的叠印效应。 | ||
| 申请公布号 | CN102029783B | 申请公布日期 | 2014.08.06 |
| 申请号 | CN201010284985.7 | 申请日期 | 2010.09.16 |
| 申请人 | 海德堡印刷机械股份公司 | 发明人 | A·豪克;S·施赖伯;U·特斯曼 |
| 分类号 | B41F33/14(2006.01)I;B41F33/00(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I | 主分类号 | B41F33/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 侯鸣慧 |
| 主权项 | 用于在使用计算机(4)的情况下在多色印刷机(7)中加工时求得承印物(3)上的对版偏差和/或套准偏差的方法，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时通过所述计算机(4)考虑叠印效应的影响，其特征在于，当在所述承印物(3)上测量时在所述计算机(4)中递推地至少考虑一个在前的和/或一个随后的印刷图像的叠印效应。 | ||
| 地址 | 德国海德堡 | ||