发明名称 |
半导体元件及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含有一半导体基板、一栅极结构、至少一外延层、一层间介电层、至少一接触洞、至少一金属硅化物以及一含氟层。半导体基板,具有至少一栅极区域以及至少一邻近于栅极区域的源/漏漏极区域。栅极结构设置于半导体基板上的栅极区域内。外延层设置于半导体基板上的源/漏漏极区域内。层间介电层覆盖住半导体基板、栅极结构以及外延层。接触洞穿透层间介电层直至暴露出外延层。金属硅化物位于接触洞底部的外延层上。含氟层设置于外延层内或外延层上,且设置于金属硅化物层的外围。 |
申请公布号 |
CN103972285A |
申请公布日期 |
2014.08.06 |
申请号 |
CN201310027248.2 |
申请日期 |
2013.01.24 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
陈意维;黄建中;刘国胜 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
陈小雯 |
主权项 |
一种半导体元件,包含有:半导体基板,具有至少一栅极区域以及至少一邻近于该栅极区域的源/漏极区域;栅极结构,设置于该半导体基板上的该栅极区域内;至少一外延层,设置于该半导体基板上的该源/漏极区域内;层间介电层,覆盖住该半导体基板、该栅极结构以及该外延层;至少一接触洞,穿透该层间介电层直至该外延层;至少一金属硅化物,位于该接触洞底部的该外延层上;以及含氟层,设置于该外延层内或该外延层上,且设置于该金属硅化物层的外围。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |