发明名称 |
Cu-Mn合金溅射靶材、Cu-Mn合金溅射靶材的制造方法以及半导体元件 |
摘要 |
本发明提供一种Cu-Mn合金溅射靶材、Cu-Mn合金溅射靶材的制造方法以及半导体元件,该Cu-Mn合金溅射靶材能够减少由于含有高浓度的Mn、杂质的氧化物等的异物所造成的溅射时的异常放电。该Cu-Mn合金溅射靶材以含有平均浓度5原子%以上且30原子%以下的Mn并且平均结晶粒径为10μm以上且50μm以下的Cu-Mn合金作为母材,利用X射线能谱分析得到的Mn浓度的最大值和最小值与平均浓度的差为±2原子%以内。 |
申请公布号 |
CN103966558A |
申请公布日期 |
2014.08.06 |
申请号 |
CN201310450062.8 |
申请日期 |
2013.09.27 |
申请人 |
株式会社SH铜业 |
发明人 |
辰巳宪之;关聪至;小林隆一;上田孝史郎 |
分类号 |
C23C14/34(2006.01)I;C22C1/02(2006.01)I;H01L21/203(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/34(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
钟晶;於毓桢 |
主权项 |
一种Cu‑Mn合金溅射靶材,其特征在于,以含有平均浓度为5原子%以上且30原子%以下的Mn并且平均结晶粒径为10μm以上且50μm以下的Cu‑Mn合金作为母材,利用X射线能谱分析得到的Mn浓度的最大值和最小值与所述平均浓度的差为±2原子%以内。 |
地址 |
日本茨城县 |