发明名称 |
蚀刻液、使用其的蚀刻方法及半导体元件的制造方法;ETCHING SOLUTION, ETCHING METHOD USING THE SAME AND METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE |
摘要 |
本发明是一种蚀刻液,其对具有包含氮化钛(TiN)的第1层、与包含选自3族~11族的过渡金属的至少1种金属的第2层的基板进行处理,而选择性除去上述第1层,且包含下述式(1)所示的无机化合物、氧化剂以及对第2层的防蚀剂:Hal-Q…(1) (Hal表示卤素原子;Q表示成为一价阳离子的原子或原子组群)。 |
申请公布号 |
TW201430172 |
申请公布日期 |
2014.08.01 |
申请号 |
TW102139446 |
申请日期 |
2013.10.31 |
申请人 |
富士软片股份有限公司 |
发明人 |
水谷笃史;上村哲也;稲叶正 |
分类号 |
C23F1/16(2006.01);C23F11/18(2006.01);C01B7/00(2006.01);C23F1/44(2006.01);H01L21/306(2006.01) |
主分类号 |
C23F1/16(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>詹铭文</name><name>叶璟宗</name> |
主权项 |
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地址 |
FUJIFILM CORPORATION 日本 |