发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF
摘要 一种半导体装置及其制造方法系揭露于此。一例示性的半导体装置包括一基板,其包括一闸极结构,此闸极结构分隔源极/汲极(source and drain,S/D)特征部件。此半导体装置更包括一第一介电层,形成于该基板上,此第一介电层包括一第一内连线结构,其与源极/汲极特征部件形成电性接触。此半导体装置又更包括一中介层,形成于第一介电层上,此中介层具有一上表面,其大体上与第一内连线结构的一上表面共平面。此半导体装置又更包括一第二介电层,形成于中介层上,此第二介电层包括一第二内连线结构,其与第一内连线结构形成电性接触,及一第三内连线结构,其与闸极结构形成电性接触。
申请公布号 TW201431085 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW102146832 申请日期 2013.12.18
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 郑敏良;王英郎;陈科维;刘继文;魏国修;黄国峰
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 <name>洪澄文</name><name>颜锦顺</name>
主权项
地址 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号