发明名称 一种在晶圆级封装的模封程序中避免晶圆破损的方法
摘要 本发明涉及一种在晶圆级封装体的制备过程中,避免晶圆在其晶圆级封装的模封程序中破损的方法。由于晶圆正面的切割道的存在,固化前具有流动性的模封料易于从切割道中溢出,产生位于晶圆边缘处的溢胶,如果外溢的模封料将晶圆和模封模具的夹具黏接在一起,一旦将夹具与晶圆进行分离就会导致晶圆的破损。本发明先对晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽,再进行模封,能有效防止模封料溢出。
申请公布号 TWI447798 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW099142626 申请日期 2010.12.07
申请人 万国半导体开曼股份有限公司 开曼群岛 发明人 黄平;吴瑞生;陈益;段磊;陈伟;鲍利华
分类号 H01L21/304;H01L21/78;H01L21/56 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 蔡清福 台北市中山区中山北路3段27号13楼
主权项 一种避免晶圆模封程序中晶圆破损的方法,包括以下步骤:步骤1:提供一晶圆,晶圆的正面包含有多颗以切割道相互界定边界的晶片;步骤2:沿切割道切割晶圆以形成位于切割道处的切割槽;步骤3:于晶圆的正面绕着晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽;步骤4:进行模封技术,于晶圆的正面模封晶圆并形成覆盖在晶圆正面的模封料,在模封技术中提供一环形夹具位于该环形研磨槽内,该环形夹具的底部按压在该环形研磨槽的一底面上。
地址 开曼群岛