发明名称 矽酸锰膜之形成方法、处理系统、半导体元件之制造方法及半导体元件
摘要 [课题]提供一种即使所沈积之锰的状态(价数)取得任何値,亦可良好地进行矽酸化之矽酸锰膜之形成方法。[解决手段]包含:使用锰化合物气体并在包含矽之底层上形成锰金属膜的工程;形成前述锰金属膜后,以氧化环境进行退火的工程;及以前述氧化环境进行退火后,以还原环境进行退火并形成矽酸锰膜的工程。
申请公布号 TW201430919 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW102134290 申请日期 2013.09.24
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 松本贤治;滨田龙文
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L21/324(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 TOKYO ELECTRON LIMITED 日本