发明名称 | 矽酸锰膜之形成方法、处理系统、半导体元件之制造方法及半导体元件 | ||
摘要 | [课题]提供一种即使所沈积之锰的状态(价数)取得任何値,亦可良好地进行矽酸化之矽酸锰膜之形成方法。[解决手段]包含:使用锰化合物气体并在包含矽之底层上形成锰金属膜的工程;形成前述锰金属膜后,以氧化环境进行退火的工程;及以前述氧化环境进行退火后,以还原环境进行退火并形成矽酸锰膜的工程。 | ||
申请公布号 | TW201430919 | 申请公布日期 | 2014.08.01 |
申请号 | TW102134290 | 申请日期 | 2013.09.24 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 松本贤治;滨田龙文 |
分类号 | H01L21/28(2006.01);H01L21/324(2006.01) | 主分类号 | H01L21/28(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>林志刚</name> | |
主权项 | |||
地址 | TOKYO ELECTRON LIMITED 日本 |