发明名称 膜形成方法及膜形成装置
摘要 本发明提供一种自然氧化膜之膜形成装置,其与先前相比,可于极低之温度下除去矽基板W之自然氧化膜。该膜形成装置系将矽基板W上之自然氧化膜转变为挥发性物质,并使该挥发性物质蒸发,由此实现于低温下去除自然氧化膜。使自然氧化膜与氟化铵反应,由此可将自然氧化膜转变为挥发性物质,即矽氟化铵。可于已除去自然氧化膜之矽基板W上使单结晶之SiGe膜成长。该装置具有基板移送室,于该基板移送室中,系于蚀刻室与SiGe成长室之间,于管理环境气体下移送矽基板。
申请公布号 TWI447251 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW096137095 申请日期 2007.10.03
申请人 爱发科股份有限公司 日本 发明人 神通晶;高桥诚一;水野荣一
分类号 C23C16/02;C23C16/42 主分类号 C23C16/02
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种膜形成方法,其特征在于其包含:第1步骤,其将矽基板之自然氧化膜转变为挥发性物质;第2步骤,其使上述挥发性物质蒸发;以及第3步骤,其于已去除上述自然氧化膜之上述矽基板上使矽与锗之合成膜成长;上述第1步骤至第3步骤系于同一处理室内进行。
地址 日本