发明名称 | 半导体元件表面高温清洁方法及系统 | ||
摘要 | 本发明提供一种半导体元件表面高温清洁方法及系统,主要系:提供一高温气化装置,该高温气化装置可产生一高温源并自一出口供出,该高温源具有可供烧除半导体元件表面上之待移除物的温度;控制该高温气化装置之出口与该半导体元件表面间之距离;及控制该高温气化装置产生该高温源,并以该高温源烧除半导体元件表面上之待移除物。藉此,可有效移除表面碎屑、残胶且不损及半导体元件,且方便、快速、安全,另可确认高温燃烧气体点燃完成及无外泄危险,又可防止下个制程空和、或空焊。 | ||
申请公布号 | TW201429571 | 申请公布日期 | 2014.08.01 |
申请号 | TW102102437 | 申请日期 | 2013.01.23 |
申请人 | 钛昇科技股份有限公司 | 发明人 | 陆志明 |
分类号 | B08B5/00(2006.01);H01L21/67(2006.01) | 主分类号 | B08B5/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | E&R ENGINEERING CORP. 高雄市燕巢区横山路61号 |