发明名称 半导体元件表面高温清洁方法及系统
摘要 本发明提供一种半导体元件表面高温清洁方法及系统,主要系:提供一高温气化装置,该高温气化装置可产生一高温源并自一出口供出,该高温源具有可供烧除半导体元件表面上之待移除物的温度;控制该高温气化装置之出口与该半导体元件表面间之距离;及控制该高温气化装置产生该高温源,并以该高温源烧除半导体元件表面上之待移除物。藉此,可有效移除表面碎屑、残胶且不损及半导体元件,且方便、快速、安全,另可确认高温燃烧气体点燃完成及无外泄危险,又可防止下个制程空和、或空焊。
申请公布号 TW201429571 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW102102437 申请日期 2013.01.23
申请人 钛昇科技股份有限公司 发明人 陆志明
分类号 B08B5/00(2006.01);H01L21/67(2006.01) 主分类号 B08B5/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 E&R ENGINEERING CORP. 高雄市燕巢区横山路61号
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