发明名称 具防电磁波干扰镀膜披覆之晶片封装构造
摘要 本新型系一种具防电磁波干扰镀膜披覆之晶片封装构造,主要是于一晶片封装体单元的相对外侧依序形成有一镀膜接着层、一镀膜导电层与一镀膜保护层;其中,该镀膜接着层可提高晶片封装体单元与镀膜导电层间的接着力,该镀膜导电层可产生电磁屏蔽而防止电磁干扰,该镀膜保护层可防止镀膜导电层产生氧化或腐蚀,藉由在晶片封装体单元外侧形成多层的金属镀膜层,利用金属镀膜层之厚度薄、重量轻、低电阻与电磁屏蔽效果佳的优点,解决现有电子产品之晶片使用金属制外盖产生制造成本高、体积大与重量重的问题。
申请公布号 TWM483635 申请公布日期 2014.08.01
申请号 TW103204575 申请日期 2014.03.18
申请人 友威科技股份有限公司 桃园县芦竹市厚生路51号6楼 发明人 林忠炫
分类号 H05K5/00;H05K9/00;C23C14/06 主分类号 H05K5/00
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种具防电磁波干扰镀膜披覆之晶片封装构造,包含有: 一晶片封装体单元,其包含一基板、一晶片与一封装体,该晶片是设于基板的其中一面,该封装体是形成于基板上并包覆该晶片; 一镀膜接着层,其形成于该封装体的相对外侧; 一镀膜导电层,其形成于该镀膜接着层的相对外侧;以及 一镀膜保护层,其形成于该镀膜导电层的相对外侧。
地址 桃园县芦竹市厚生路51号6楼