| 发明名称 | 电子元件的布局结构及其测试方法;LAYOUT STRUCTURE OF ELECTRONIC ELEMENT AND TESTING METHOD OF THE SAME THEREOF | ||
| 摘要 | 一种电子元件的布局结构,包括电子元件阵列、第一负载及第二负载。第一负载系耦接至电子元件阵列之第一端,包括第一测试垫及第二测试垫耦接至第一测试垫。第二负载系耦接至电子元件阵列之第二端,第二负载包括第三测试垫及第四测试垫耦接至第三测试垫。 | ||
| 申请公布号 | TW201430979 | 申请公布日期 | 2014.08.01 |
| 申请号 | TW102102050 | 申请日期 | 2013.01.18 |
| 申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 张峻铭;侯俊良;廖文荣 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);G01R31/26(2014.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | <name>祁明辉</name><name>林素华</name><name>涂绮玲</name> | |
| 主权项 | |||
| 地址 | UNITED MICROELECTRONICS CORP. 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 | ||