发明名称 |
示波器探头校验装置 |
摘要 |
本发明提供一种示波器探头校验装置,其包括示波器、主分支模组及子分支模组;示波器包括输出端及多个输入端;主分支模组包括与示波器之输出端相连接之输入端和至少两个输出端;子分支模组包括第一子分支模组、一第二子分支模组及一电阻;第一子分支模组包括与主分支模组之输出端相连接之输入端和至少一组输出端;第二子分支模组包括与主分支模组之输出端相连接之输入端和至少一组输出端;电阻之一端连接于第二子分支模组与主分支模组之间,另一端接地;单端探头连接于第一子分支模组之输出端,差分探头连接于第二子分支模组之输出端。 |
申请公布号 |
TWI447419 |
申请公布日期 |
2014.08.01 |
申请号 |
TW099121358 |
申请日期 |
2010.06.30 |
申请人 |
鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号 |
发明人 |
李晖 |
分类号 |
G01R35/00;G01R13/00;G01R1/067 |
主分类号 |
G01R35/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种示波器探头校验装置,其用于对单端探头和差分探头进行幅值和时序校验;所述示波器探头校验装置包括一示波器、一主分支模组及至少一组子分支模组;所述示波器包括一输出端及多个输入端:所述主分支模组包括一与示波器之输出端相连接之输入端和至少两个输出端;所述子分支模组包括一第一子分支模组、一第二子分支模组及一电阻;所述第一子分支模组包括一与主分支模组之输出端相连接之输入端和至少一组输出端;所述第二子分支模组包括一与主分支模组之输出端相连接之输入端和至少一组输出端;所述电阻之一端连接于第二子分支模组与主分支模组之间,另一端接地;所述单端探头连接于第一子分支模组之输出端与示波器之输入端之间,所述差分探头连接于第二子分支模组之输出端与示波器之输入端之间。 |
地址 |
新北市土城区自由街2号 |