| 发明名称 | 一种薄膜生产中张力控制装置及其控制方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种薄膜生产中张力控制装置及其控制方法。目前市场上已有的张力控制产品成本高昂、功能繁杂，没有针对性的领域；或是对于执行部件的控制没有反馈，无法保证控制精度。本发明采用带温度补偿的超声波检测模块实时检测薄膜料卷半径尺寸的变化量，张力控制器根据料卷半径尺寸的变化产生控制信号，通过控制可控恒流源输出的电流，以控制磁粉制动器相应改变输出的扭矩，以确保薄膜保持恒定的张力。本发明对执行部件的控制与原料卷径形成闭环系统，能实现实时张力控制；无需张力传感器，使用微控制器、磁粉制动器及超声波测距模块，成本低。 | ||
| 申请公布号 | CN103950771A | 申请公布日期 | 2014.07.30 |
| 申请号 | CN201410186489.6 | 申请日期 | 2014.05.04 |
| 申请人 | 杭州电子科技大学 | 发明人 | 朱礼尧;公晓丽;吴涛;陈文浩 |
| 分类号 | B65H23/195(2006.01)I;B65H26/04(2006.01)I;B65H26/08(2006.01)I | 主分类号 | B65H23/195(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人 | 杜军 |
| 主权项 | 一种薄膜生产中张力控制方法，其特征在于：采用带温度补偿的超声波检测模块实时检测薄膜料卷半径尺寸的变化量，张力控制器根据料卷半径尺寸的变化产生控制信号，通过控制可控恒流源输出的电流，以控制磁粉制动器相应改变输出的扭矩，以确保薄膜保持恒定的张力。 | ||
| 地址 | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 | ||