发明名称 |
一种检测物谱图与数据库谱图的匹配方法 |
摘要 |
本发明公开了检测物谱图与数据库谱图方法的匹配方法,包括以下步骤:一、针对检测物谱图中的特征峰中的主峰与数据库标准谱图中的参照峰进行匹配,从中筛选出多个一级候选谱图;二、在多个一级候选谱图中,针对检测物谱图中的特征峰中除去主峰外的任意n个特征峰中的至少一个特征峰的峰值与参照峰进行匹配,从中筛选出多个二级候选谱图;三、逐个选取检测物谱图中的m个特征峰在一个二级候选谱图中进行查找,当二级候选谱图中存在m个参照峰分别与m个特征峰的峰值和横坐标匹配,则该二级候选标准谱图作为三级候选标准谱图;四、利用后续操作在多个三级候选标准谱图中筛选出一个与检测物谱图匹配成功的谱图,本方法精度高。 |
申请公布号 |
CN103955518A |
申请公布日期 |
2014.07.30 |
申请号 |
CN201410188493.6 |
申请日期 |
2014.05.06 |
申请人 |
北京华泰诺安科技有限公司 |
发明人 |
杜靖;袁丁;赵喜;吴红彥 |
分类号 |
G06F17/30(2006.01)I;G06K9/64(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/30(2006.01)I |
代理机构 |
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 |
代理人 |
史霞 |
主权项 |
一种检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、数据库内存储有多个标准谱图,每个标准谱图上均选取多个参照峰,从检测物谱图上选取m个特征峰,并以其中一个峰值最高的特征峰为主峰,并在所有的标准谱图中进行查找,当一个标准谱图存在一个参照峰与所述主峰的峰值匹配,则将该标准谱图作为一级候选标准谱图,进而确定出多个一级候选标准谱图;步骤二、在除主峰外剩下的m‑1个特征峰中选取n个特征峰构成一特征峰序列;对多个一级候选标准谱图依次执行以下步骤,进而确定出多个二级候选标准谱图:在所述特征峰序列中逐个选取特征峰在一个一级候选标准谱图中查找,当一级候选标准谱图存在至少一个参照峰与所述特征峰序列的至少一个特征峰的峰值匹配,则该一级候选标准谱图作为二级候选标准谱图;步骤三、对多个二级候选标准谱图依次执行以下步骤,进而确定出至少一个三级候选标准谱图:逐个选取检测物谱图中的m个特征峰在一个二级候选标准谱图中进行查找,当该二级候选标准谱图中存在m个参照峰分别与m个特征峰的峰值和横坐标匹配,则该二级候选标准谱图作为三级候选标准谱图;步骤四、当三级候选标准谱图为一个时,则该三级候选标准谱图为与检测物谱图匹配成功的谱图,否则利用后续操作在多个三级候选标准谱图中筛选出一个与检测物谱图匹配成功的谱图。 |
地址 |
100200 北京市朝阳区利泽中一路1号10层办公楼A1003 |