数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法

摘要

数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法，涉及数字电路故障检测领域。本发明解决了现有数字电路故障检测电路和检测方法均无法确切的识别开路状态，以及需要测试的电路网络比较多时，故障检测的过程复杂的问题。本发明采用两个互补的三极管，根据输入信号的高电平、低电平、开路三种不同状态，使两个三极管产生与之对应的导通/关断状态组合，从而反应出输入信号的实际状态；输出模块用于将三极管的导通/关断状态组合以数字信号的形式输出，由光耦器件构成。本发明适用于数字电路故障检测。

主权项

数字电路故障检测电路，其特征在于，该电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、、第一路光耦合器(U1)、第二路光耦合器(U2)、电源VCC和一对互补的三极管：NPN型三极管(Q1)和PNP型三极管(Q2)；电阻R1的一端与电阻R2的一端相连，且电阻R1的一端与电阻R2的一端为检测信号输入端，电阻R1的另一端连接NPN型三极管(Q1)的基极，NPN型三极管(Q1)的发射极连接电源VCC，NPN型三极管(Q1)的集电极连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阳极，第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阴极连接电源地；第一路光耦合器(U1)的光敏三极管的集电极连接电阻R5的一端，且该集电极为测试信号输出端，电阻R5的另一端连接电源VCC，第一路光耦合器(U1)的光敏三极管的发射极连接电源地；电阻R2另一端连接PNP型三极管(Q2)的基极，PNP型三极管(Q2)的发射极连接电源地，PNP型三极管(Q2)的集电极连接第二路光耦合器(U2)的发光二极管的阴极，第二路光耦合器(U1)的发光二极管的阳极连接电阻R4的一端，电阻R4的另一端连接电源VCC；第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的集电极连接电阻R6的一端，且该集电极为测试信号输出端，电阻R6的另一端连接电源VCC，第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的发射极连接电源地。