发明名称 一种阶梯式沟槽MOS肖特基二极管器件
摘要 本发明公开了一种阶梯式沟槽MOS肖特基二极管器件,包括N+半导体衬底;N-外延层,位于N+半导体衬底上;N-外延层上加工阶梯状的沟槽结构;梯形沟槽内壁生长氧化层;N-外延层上及沟槽内生长肖特基接触的阳极金属;N+衬底下面生长欧姆接触的阴极金属。所述的沟槽结构是由两个直角沟槽形成阶梯状沟槽;即N-外延层的截面为周期性排列的凸出状。将传统TMBS里面的直角沟槽的上部沟槽宽度变宽,这样能有效的调节沟槽中不同部位的电场耦合作用,从而调节沟槽中间有源区不同深度处电场强度。使用该结构可以保持在击穿电压不减小、正向导通电压只是略有增加的情况下,实现漏电的大幅降低。
申请公布号 CN103956389A 申请公布日期 2014.07.30
申请号 CN201410148707.7 申请日期 2014.04.14
申请人 杭州启沛科技有限公司;南京大学 发明人 蔡银飞;翟东媛;赵毅;施毅
分类号 H01L29/872(2006.01)I;H01L21/338(2006.01)I 主分类号 H01L29/872(2006.01)I
代理机构 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人 陈建和
主权项 一种阶梯式沟槽MOS肖特基二极管器件,包括N+半导体衬底;N‑外延层,位于N+半导体衬底上;N‑外延层上加工阶梯状的沟槽结构;其特征在于:梯形沟槽内壁生长氧化层;N‑外延层上及沟槽内生长肖特基接触的阳极金属;N+衬底下面生长欧姆接触的阴极金属。
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