发明名称 基于SIFT的DWT-SVD抗几何攻击盲水印方法
摘要 本发明涉及一种基于SIFT的DWT-SVD抗几何攻击盲水印方法。本发明方法包括水印嵌入方法和水印提取方法。水印嵌入方法是对原始图像进行离散小波变换,将其低频子带分块并对每小块进行奇异值分解,再将待嵌入水印进行混沌加密,在每小块的最大奇异值中通过一种最优量化方法嵌入水印,保存水印图像的SIFT特征点作为密钥,通过密钥判断受到几何攻击类型并进行校正。水印提取方法是水印嵌入方法的逆过程,包括对受攻击图像进行校正、水印提取,水印解密和恢复。本发明利用SIFT特征点的旋转、缩放、平移不变性,并结合DWT、SVD在数字水印方面的优势,显著地提高了对几何攻击的鲁棒性。
申请公布号 CN103955878A 申请公布日期 2014.07.30
申请号 CN201410146026.7 申请日期 2014.04.11
申请人 杭州电子科技大学 发明人 叶学义;陈雪婷;邓猛;汪云路;何志伟;赵知劲
分类号 G06T1/00(2006.01)I 主分类号 G06T1/00(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 杜军
主权项 基于SIFT的DWT‑SVD抗几何攻击盲水印方法,包括水印嵌入方法和水印提取方法,其特征在于:所述的水印嵌入方法的具体步骤是:步骤1:获取正方形的原始载体图像I(M,M),M是图像的行和列,I的内切圆记作S,S的内接正方形用来嵌入水印,记做x,对x进行一级离散小波变换,得到低频子带LL、高频子带HH、混合子带HL和LH,其矩阵大小为<img file="FDA0000490068260000012.GIF" wi="185" he="74" />将其低频子带LL划分为互不重叠的n×n个大小为m×m的子块,n是m的整数倍,<img file="FDA0000490068260000013.GIF" wi="251" he="69" />各个子块记为A<sub>ij</sub>(i=1,2,…n;j=1,2,…n);步骤2:对待嵌入的水印W采用logistic映射混沌模型进行混沌加密得到加密后水印W<sub>0</sub>,记映射初值为X<sub>0</sub>,混沌系数μ∈(3.5699,4],然后将加密后的水印按行排成一列,将初值X<sub>0</sub>和μ当作密钥;步骤3:对A<sub>ij</sub>进行奇异值分解,得到最大奇异值L<sub>ij</sub>;取量化步长为Δ,令δ<sub>ij</sub>=mod(L<sub>ij</sub>,Δ),δ<sub>ij</sub>为对L<sub>ij</sub>以Δ为单位求模的余数,根据δ<sub>ij</sub>进行量化嵌入水印,L<sub>i</sub>′<sub>j</sub>表示量化后的最大奇异值,量化方法如下:<img file="FDA0000490068260000011.GIF" wi="905" he="538" />步骤4:对Ai<sub>j</sub>进行奇异值分解,对奇异值分解后的分析系数放在对应位置上,形成新的矩阵作为嵌入水印的新低频子带,然后将该新低频子带和对应的高频子带HH、混合子带HL和LH进行逆小波变换,重构出水印图像I<sup>*</sup>;步骤5:利用SIFT算法对水印图像提取特征点,记录特征点的位置、尺度和描述符作为特征点模板T,并将模板T作为密钥T′;所述的水印提取方法的具体步骤是:步骤a:对接收到的图像提取SIFT特征点,并与密钥T′进行匹配,如果完全匹配则表示未被攻击,直接进入步骤b;如果不能完全匹配则表示受到攻击,根据密钥T′对其进行校正后进入步骤b;步骤b:选取载体图像的内切圆的内接正方形作为水印嵌入区域x′,对x′进行一级离散小波变换,将其低频子带划分为互不重叠的大小为m×m的子块,各个子块记为A<sub>ij</sub>(i=1,2,…n;j=1,2,…n);步骤c:对A<sub>i</sub>′<sub>j</sub>进行奇异值分解,得到最大奇异值L<sub>i</sub>′<sub>j</sub>,δ<sub>ij</sub>′=mod(L<sub>i</sub>′<sub>j</sub>,Δ),若<img file="FDA0000490068260000021.GIF" wi="209" he="71" />则w′=0;若<img file="FDA0000490068260000022.GIF" wi="204" he="73" />则w′=1,w′即为在A<sub>i</sub>′<sub>j</sub>提取的比特;步骤d:对提取的比特按行排成二维矩阵W*,并进行混沌解密,即可恢复真实的水印W。
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