发明名称 |
LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统 |
摘要 |
一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统,包括测试系统主体和采光机构,测试系统主体用于测试被测LED的光电参数;采光机构用于采集被测LED的光信号,并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试;LED承载平台上设有样品测试工位和被测LED测试工位,移动LED承载平台,所述测试系统主体可分别测试LED样品和被测LED的光电参数,并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。本实用新型具有一次安装测试完成后,即可评估整个矩阵发光二极管的性能,大幅度减少生产中LED性能评估时间;将光参数测试模块,电参数测试模块,矩阵开关都集成在机箱内,集成化程度高,不受外界环境的干扰。 |
申请公布号 |
CN203745602U |
申请公布日期 |
2014.07.30 |
申请号 |
CN201420110924.2 |
申请日期 |
2014.03.12 |
申请人 |
何选民 |
发明人 |
何选民 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 |
代理人 |
胡清方;彭友华 |
主权项 |
一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统,包括测试系统主体、被测LED矩阵开关、采光机构和LED承载平台,其中,所述测试系统主体用于测试被测LED的光电参数;所述被测LED矩阵开关受控于所述测试系统主体,用于按顺序点亮承载平台的被测LED安装工位上的被测LED,同时,采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数;所述采光机构用于采集被测LED的光信号,并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试;其特征在于:还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关,以及在所述LED承载平台上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位,移动所述LED承载平台,所述测试系统主体测试分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区西乡街道茶西三围第二工业区B区9-10楼 |