一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置

摘要

本发明公开了一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置，本发明的装置包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogopin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，所述上PCB夹板通过pogopin与下PCB夹板连接，所述上PCB夹板和下PCB夹板均还与测试设备连接。本发明的装置解决了现有技术无法准确对pogopin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogopin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogopin本身的电气性能，从而能使pogopin更好应用于IC的测试。本发明可广泛应用于集成电路测试领域。

主权项

一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，其特征在于：包括：A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；B、对PCB校验板进行TRL校准，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零；C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试，从而得到pogo pin的电气性能参数，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。