发明名称 包括用于探测X射线辐射的两个闪烁体的探测装置
摘要 一种用于探测辐射的探测装置。本发明涉及用于探测辐射的探测装置。所述探测装置包括具有不同时间行为的至少两个闪烁体(14、15),每个在接收到辐射时生成闪烁光,其中,所生成的闪烁光被闪烁光探测单元(16)共同探测到,由此生成共同光探测信号。探测值确定单元通过对所述探测信号应用第一确定过程确定第一探测值并且通过对所述探测信号应用第二确定过程确定第二探测值,所述第二探测过程不同于所述第一确定过程。所述第一确定过程包括对所述探测信号进行频率滤波。由于所述不同闪烁体的所述闪烁光被相同闪烁光探测单元集体地探测到,因而不必须要求用于分别地探测所述不同闪烁体的不同闪烁光的(例如)利用侧视光电二极管的探测布置,由此降低了所述探测装置的技术复杂度。
申请公布号 CN103959097A 申请公布日期 2014.07.30
申请号 CN201280058860.X 申请日期 2012.11.23
申请人 皇家飞利浦有限公司 发明人 E·勒斯尔;A·特伦;R·普罗克绍
分类号 G01T1/20(2006.01)I 主分类号 G01T1/20(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英;刘炳胜
主权项 一种用于探测辐射的探测装置,所述探测装置(6、12)包括:‑辐射接收单元(6),其包括:‑第一闪烁体(14),其用于根据所述辐射生成第一闪烁光,其中,所述第一闪烁光具有第一时间行为,‑第二闪烁体(15),其用于根据所述辐射生成第二闪烁光,其中,所述第二闪烁光具有不同于所述第一时间行为的第二时间行为,‑闪烁光探测单元(16),其用于探测所述第一闪烁光和所述第二闪烁光,并且用于生成指示所述第一闪烁光和所述第二闪烁光的共同光探测信号,‑探测值确定单元(12),其用于确定第一探测值和第二探测值,其中,所述探测值确定单元(12)适于:‑通过对所述共同光探测信号应用第一确定过程来确定所述第一探测值,其中,所述第一确定过程包括通过使用第一频率滤波器来对所述共同光探测信号进行频率滤波,由此生成第一滤波共同光探测信号,并且根据所述第一滤波共同光探测信号来确定所述第一探测值,‑通过对所述共同光探测信号应用第二确定过程来确定所述第二探测值,其中,所述第二确定过程不同于所述第一确定过程。
地址 荷兰艾恩德霍芬