发明名称 Halbleiterbauelement mit Durchgangskontaktierungen mit einem Verspannungsrelaxationsmechanismus und Verfahren zur Herstellung eines solchen
摘要 Halbleiterbauelement mit: einem Substrat mit einer Vorderseite und einer Rückseite; einer Durchgangskontaktierung, die in dem Substrat so ausgebildet ist, dass sie sich zumindest zu der Rückseite erstreckt, wobei die Durchgangskontaktierung eine dielektrische Schicht aufweist, die in Kontakt mit dem Substrat und einem metallenthaltenden leitenden Füllmaterial ausgebildet ist; und einem Verspannungsrelaxationsmechanismus, der in Kontakt mit der Durchgangskontaktierung ausgebildet und so gestaltet ist, dass eine thermisch hervorgerufene Verspannung, die durch eine Fehlanpassung der thermischen Ausdehnungskoeffizienten zwischen dem Substrat und dem leitenden Füllmaterial hervorgerufen wird, verringert wird, wobei der Verspannungsrelaxationsmechanismus zumindest einen Volumenausdehnungsbereich umfasst, der als ein Kontaktierungsbereich mit einer lokal erhöhten Breite und einer im Wesentlichen nicht variierenden Dicke des leitenden Füllmaterials vorgesehen ist.
申请公布号 DE102010030760(B4) 申请公布日期 2014.07.24
申请号 DE20101030760 申请日期 2010.06.30
申请人 GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. 发明人 HUISINGA, TORSTEN;GRILLBERGER, MICHAEL;HAHN, JENS
分类号 H01L23/50;H01L21/60;H01L21/768;H01L23/52 主分类号 H01L23/50
代理机构 代理人
主权项
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