发明名称 |
包括并行和串行访问的片上系统的测试方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种用于片级JTAG测试的新硬件描述语言。这种新硬件描述语言被称作新BSDL(NSDL),使得能够描述片上系统的测试资源,从而使得能够以便于片上系统测试的方式来描述片上系统。本发明提供了一种自下至上的方法来描述片上系统。本发明支持片上系统的每个组件的算法描述,并且支持片上系统的组件之间的互连的算法描述,从而能够产生整个片上系统或部分片上系统的算法描述。本发明支持对一个或多个片上系统器件的并行访问,包括用于描述和使用并行访问进行测试的方法。 |
申请公布号 |
CN101884032B |
申请公布日期 |
2014.07.23 |
申请号 |
CN200880118846.8 |
申请日期 |
2008.11.24 |
申请人 |
阿尔卡特朗讯美国公司 |
发明人 |
塔潘·乔蒂·查克拉伯蒂;姜辰焕;苏勒什·戈雅尔;米歇尔·波多兰;布拉德福·吉恩·范特卢勒 |
分类号 |
G06F11/26(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
刘国伟 |
主权项 |
一种使用从测试系统到片上系统的并行访问来测试片上系统的至少一部分的方法,所述片上系统包括多个组件,所述方法包括:接收对串行测试访问接口的算法描述,所述串行测试访问接口适于在测试系统与组件之间耦合测试比特流,其中所述串行测试访问接口使用片上系统的串行扫描路径来提供对组件的访问;以及接收对并行测试访问接口的算法描述,所述并行测试访问接口用于在测试系统与组件之间耦合测试比特流,其中,所述并行测试访问接口提供对所述组件的访问,而不使用片上系统的串行扫描路径;以及存储对串行测试访问接口的算法描述以及对并行测试访问接口的算法描述以在测试所述片上系统的至少一部分时使用,其中每一算法描述包含以适于由测试工具理解的格式定义的一个或多个构成规则。 |
地址 |
美国新泽西州 |