发明名称 |
荧光分析用光学分波检测器和荧光检测系统 |
摘要 |
本发明涉及荧光分析用光学分波检测器和荧光检测系统。所述荧光分析用光学分波检测器是一种小型、组件数量少并且易于组装的荧光分析用光学分波检测器。将经第一光传输路径接收的激发光输出至第二光传输路径,经所述第二光传输路径接收由所述第二光传输路径输出的所述激发光产生的荧光,并检测所述荧光。通过所述第一光传输路径传播的所述激发光和通过所述第二光传输路径传播的所述荧光由第一透镜的同一表面接收。由电介质多层膜构成的光波长选择部件接收透过所述第一透镜的所述激发光和所述荧光,并反射所述激发光和透过所述荧光。光电转换元件直接接收透过所述第一光波长选择部件的荧光。 |
申请公布号 |
CN101893571B |
申请公布日期 |
2014.07.23 |
申请号 |
CN201010181094.9 |
申请日期 |
2010.05.13 |
申请人 |
日本板硝子株式会社 |
发明人 |
福泽隆 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
丁香兰;庞东成 |
主权项 |
一种荧光分析用光学分波检测器,所述检测器将经第一光传输路径接收的激发光输出至第二光传输路径,经所述第二光传输路径接收由所述第二光传输路径输出的所述激发光产生的荧光,并检测所述荧光,所述检测器包括:第一透镜,所述第一透镜在同一表面上接收通过所述第一光传输路径传播的所述激发光和通过所述第二光传输路径传送的所述荧光;包含电介质多层膜的第一光波长选择部件,所述第一光波长选择部件接收透过所述第一透镜的所述激发光和所述荧光,并反射所述激发光和透过所述荧光;和光电转换元件,所述光电转换元件直接接收透过所述第一光波长选择部件的所述荧光。 |
地址 |
日本东京 |