发明名称 半导体装置
摘要 本发明公开一种半导体装置,包括一半导体基底、至少一第一栅极、一浅沟槽隔离以及一第三栅极。第一栅极设置于半导体基底上,且第一栅极部分重叠第三栅极与浅沟槽隔离。此外,第三栅极设置于浅沟槽隔离中,且第三栅极包括至少一突出部。
申请公布号 CN103943623A 申请公布日期 2014.07.23
申请号 CN201310022369.8 申请日期 2013.01.22
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 李召兵;许正源;任驰
分类号 H01L27/115(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陈小雯
主权项 一种半导体装置,包括:至少一第一栅极设置于一半导体基底上;以及第三栅极,设置于一浅沟槽隔离中,其中该第一栅极部分重叠该第三栅极与该浅沟槽隔离,且该第三栅极包括至少一突出部。
地址 中国台湾新竹科学工业园区