发明名称 |
双波长量化相位成像和荧光成像联合系统 |
摘要 |
本发明提供了一种双波长量化相位成像和荧光成像联合系统。本发明将共聚焦原理应用在量化相位成像,将荧光成像与量化相位成像结合,采用位相调制和双波长调制的方法,在提高了量化相位显微系统的信噪比和分辨率的同时,获得高分辨率的荧光图像,在细胞荧光成像、结构成像、物体内部结构、表面检测等方面具有良好的应用。 |
申请公布号 |
CN103940787A |
申请公布日期 |
2014.07.23 |
申请号 |
CN201310016989.0 |
申请日期 |
2013.01.17 |
申请人 |
中国科学院生物物理研究所 |
发明人 |
付彦辉;罗志勇;纪伟;贾策;张翔;仓怀兴;徐涛 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
曹玲柱 |
主权项 |
一种双波长量化相位成像和荧光成像联合系统,其特征在于,包括:光源系统(100),用于提供不同波长的第一激光束和第二激光束;分束组件(200),用于将第一激光束分束为第一参考光束和第一干涉光束;将第二激光束分束为第二参考光束和第二干涉光束,第一参考光束和第二参考光束射入参考光路(400);第一物光光束和第二物光光束射入物光光路(300);物光光路(300),用于将第一物光光束和第二物光光束投射至样品上,携带样品信息的第一物光光束和第二物光光束由第五分光棱镜(314)反射至干涉成像系统(500);同时,由第一物光光束和第二物光光束激发样品产生的荧光光束经第六分光棱镜(316)透射至荧光成像系统(600);参考光路(400),用于将第一参考光束和第二参考光束投射至干涉成像系统(500);干涉成像系统(500),用于将第一参考光束和第一物光光束,及第二参考光束和第二物光光束进行干涉成像;荧光成像系统(600),与所述物光光路(300)共用共聚焦成像部分,用于对第一物光光束和第二物光光束激发的荧光光束进行成像。 |
地址 |
100101 北京市朝阳区大屯路15号 |