| 发明名称 | 触摸屏的侦测位置的方法与装置 | ||
| 摘要 | 本发明是有关于一种触摸屏的侦测位置的方法与装置，本发明侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，并且依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，以分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值或四个值产生一坐标数据。 | ||
| 申请公布号 | CN103941929A | 申请公布日期 | 2014.07.23 |
| 申请号 | CN201310025291.5 | 申请日期 | 2013.01.23 |
| 申请人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 发明人 | 叶尚泰 |
| 分类号 | G06F3/044(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/044(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人 | 寿宁 |
| 主权项 | 一种触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于其包括：侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。 | ||
| 地址 | 中国台湾台北市内湖区瑞光路302号11楼 | ||