发明名称 测试系统
摘要 本发明提供一种测试系统,包括一待测装置、多个量测仪器、一控制装置及一切换模组;该多个量测仪器用以测试该待测装置;该控制装置用以输出一控制信号;及该切换模组包含多个继电器,该切换模组分别耦接该待测装置、该多个量测仪器及该控制装置,用以依据该控制信号,决定由该多个量测仪器其中之一对该待测装置进行测试,其中该控制装置于控制该切换模组进行该多个量测仪器的切换之前,先检测该多个继电器的状态以确认该切换模组能正常运作。
申请公布号 TWI445986 申请公布日期 2014.07.21
申请号 TW101111716 申请日期 2012.04.02
申请人 威光自动化科技股份有限公司 新竹市牛埔南路17巷6号 发明人 邵荣宗;郑媛芳;邹智文
分类号 G01R31/3173;G01R31/36 主分类号 G01R31/3173
代理机构 代理人 沈维扬 台北市信义区基隆路2段91号3楼之1
主权项 一种测试系统,包括:一待测装置;多个量测仪器,用以测试该待测装置;一控制装置,用以输出一控制信号;及一切换模组,包含两个作为切换开关使用的第一继电器与第二继电器,以及多个提供该控制装置检测用的第三继电器、第四继电器及第五继电器,该第一继电器与第二继电器分别耦接于该待测装置及该多个量测仪器之间,该第三继电器、第四继电器及第五继电器分别耦接该第一继电器、第二继电器、该控制装置与该多个量测仪器,用以依据该控制信号,决定由该多个量测仪器其中之一对该待测装置进行测试;其中,该第三继电器、第四继电器及第五继电器分别具有一量测点耦接该控制装置,该控制装置于控制该切换模组进行该多个量测仪器的切换之前,先检测该多个量测点的信号状态,以确认该第一继电器及第二继电器能正常运作之后,再透过第一继电器及第二继电器进行切选,以决定该多个量测仪器其中之一对该待测装置进行测试。
地址 新竹市牛埔南路17巷6号