发明名称 Verfahren zur Bestimmung von Tiefenkarten aus Stereobildern mit verbesserter Tiefenauflösung im Fernbereich
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Tiefenkarte aus Stereobildern. Die Disparität für einen Pixel wird aus einer diskreten Menge von vorgegebenen Disparitätswerten bestimmt wird und diese Disparitätswerte über den gesamten vorgegebenen Disparitätswertebereich verteilt sind und diese Verteilung zwischen benachbarten Disparitätswerten mindestens zwei unterschiedliche Abstände aufweist. Ein Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens liegt darin, dass mit dem Verfahren nur die Disparitäten genauer berechnet werden können, für die auch eine genauere Bestimmung notwendig ist.
申请公布号 DE102013100344(A1) 申请公布日期 2014.07.17
申请号 DE201310100344 申请日期 2013.01.14
申请人 CONTI TEMIC MICROELECTRONIC GMBH 发明人 LANGE, FREDERIK;STÜCK, ROBERT;EXNER, CHRISTIAN;BACHMANN, ALEXANDER;BARATOFF, GREGORY
分类号 G01C11/36;G01C11/06;G03B35/00;G06T7/00 主分类号 G01C11/36
代理机构 代理人
主权项
地址